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場發射掃描/透射電子顯微鏡
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- 更新日期：2023-03-20
- 產品介紹：Thermo Scientific Talos F200S G2 200kV場發射掃描/透射電子顯微鏡（S/TEM）結合快速、多通道、高分辨率S/TEM 成像和成分分析，實現動態顯微鏡成像分析應用。
- 廠商性質：代理商
產品介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 場發射 | 應用領域 | 電子/電池 |
Thermo Scientific Talos F200S G2 200kV場發射掃描/透射電子顯微鏡（S/TEM）結合快速、多通道、高分辨率S/TEM 成像和成分分析，實現動態顯微鏡成像分析應用。憑借多種旨在提高吞吐量、精度和易用性的創新功能，Talos 已成為學術、政府和工業研究等各種環境下進行高級研究與分析的理想之選。
Thermo Scientific Talos F200S G2 200kV場發射掃描/透射電子顯微鏡特點：
光學性能：恒定功率X-TWIN物鏡
•易用性：針對多用戶環境的快速、輕松的操作參數切換
•超穩定平臺：恒功率物鏡、可靠的系統外殼和遠程操作確保高穩定性
•SmartCam相機：數字搜索和查看相機可為所有應用提供較大的視場，并允許在正常房間光線下操作
•全集成快速探測器：Ceta 16M像素CMOS攝像頭可以提供較大的視場和高讀取速度（25 fps@512×512）
•全遙控操作：自動光闌系統與Ceta相機結合，支持全遙控操作
Talos F200S G2 S/TEM
總束電流> 150 nA
探針電流 0.6 nA @ 1 nm 探針 (200 kV)
EDS系統 2 SDD無窗設計, 快門保護
能量分辨率 ≤136 eV （Mn-Kα 和 10 kcps （輸出））
快速EDS面分析 像素駐留時間低至10μs
X-Twin
STEM HAADF 分辨率 0.16 nm
EDX 立體角 0.45 srad
TEM 信息分辨率 0.12 nm
大衍射角度 24 ?
雙傾樣品桿的大傾斜角度 ±35° α 傾角 /±30° β 傾角
樣品臺大傾斜角度 ±90 ?
